JaSST '08 Tokyo

Test

1/30（水）、1/31（木）と、ソフトウェアテストに関するイベントである JaSST'08 に参加してきました。

開発エンジニアだけでなく、品証などの方も多く参加するイベントです。


今年の基調講演は、「Software Quality In 2008」という題で、Capers Jones氏によって行われました。Capers Jones氏は、ソフトウェア開発における見積もりや品質に関する定量化の先駆者。
最初、私自身の不勉強のため、名前だけでは分からなかったのですが、「amazon:ソフトウェア見積りのすべて」などの書籍で繋がりました（汗）


テストということで、品質向上には、テストやコードインスペクションだけでなく、上位工程でのレビュー等、開発初期段階から各工程で品質を作り込んでいくことが重要、という内容でした。
これは、良く言われる話だとは思いますが、Defect Removal Efficiency（欠陥除去効率）等の具体的なデータを示しながら、品質向上に寄与する取り組みが語られていました。


私も、SEPGとして定量化にはいろいろと取り組んでいますが、プロセス／品質改善に有効なデータを集めるのは苦労します。精度の問題や層別の必要など、単に集計するだけでは、活きたデータにならないんですよね。

そのようなデータが手元にあるのは、自社のプロセス改善を図るにも、他社にコンサルティングをするのにも、強い武器ですね。


また、今年は、永田 敦（ソニー）氏が講演を行った「テスト分析の方法 HAYST法とマインドマップを使って」というセッションがベストスピーカー賞に選ばれていました。


このセッションは、別の用事があって参加できなかったのが残念。
資料を見ましたが、HAYST法とマインドマップを使って、網羅性の高いテストケースを効率的にあげる試みのようですね。


去年は都合が合わず、参加できなかったのですが、今年は参加できて良かったです。
資料が公開されたら、社内にもフィードバックして、より良いテストを考えていこう！